Mikroskopie atomárních sil (AFM) je metoda sloužící k analýze profilu a celkové drsnosti povrchu materiálů na mikrometrové až nanometrové úrovni.. Detekuje se pohyb měřícího hrotu nad povrchem materiálu. Používá se hlavně k trojrozměrnému zobrazování povrchů.
AFM - metoda pro analýzu povrchů ošetřených plazmovým výbojem
- Chempoint - Article
- 18. 4 2012 (23:22)