- Chempoint - Article
- 18. 4. 23:22
Mikroskopie atomárních sil (AFM) je metoda sloužící k analýze profilu a celkové drsnosti povrchu materiálů na mikrometrové až nanometrové úrovni.. Detekuje se pohyb měřícího hrotu nad povrchem materiálu. Používá se hlavně k trojrozměrnému zobrazování povrchů.